該雜志國際簡稱:IEEE T SEMICONDUCT M,是由出版商Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版的一本致力于發(fā)布工程技術(shù)研究新成果的的專業(yè)學(xué)術(shù)期刊。該雜志以PHYSICS, APPLIED研究為重點(diǎn),主要發(fā)表刊登有創(chuàng)見的學(xué)術(shù)論文文章、行業(yè)最新科研成果,扼要報(bào)道階段性研究成果和重要研究工作的最新進(jìn)展,選載對學(xué)科發(fā)展起指導(dǎo)作用的綜述與專論,促進(jìn)學(xué)術(shù)發(fā)展,為廣大讀者服務(wù)。該刊是一本國際優(yōu)秀雜志,在國際上有很高的學(xué)術(shù)影響力。
基本信息:
期刊簡稱:IEEE T SEMICONDUCT M
是否OA:未開放
是否預(yù)警:否
Gold OA文章占比:4.67%
出版信息:
出版地區(qū):UNITED STATES
出版周期:Quarterly
出版語言:English
出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing雜志介紹
《Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing》是一本以English為主的未開放獲取國際優(yōu)秀期刊,中文名稱半導(dǎo)體制造的IEEE交易,本刊主要出版、報(bào)道工程技術(shù)-PHYSICS, APPLIED領(lǐng)域的研究動(dòng)態(tài)以及在該領(lǐng)域取得的各方面的經(jīng)驗(yàn)和科研成果,介紹該領(lǐng)域有關(guān)本專業(yè)的最新進(jìn)展,探討行業(yè)發(fā)展的思路和方法,以促進(jìn)學(xué)術(shù)信息交流,提高行業(yè)發(fā)展。該刊已被國際權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE收錄,為該領(lǐng)域相關(guān)學(xué)科的發(fā)展起到了良好的推動(dòng)作用,也得到了本專業(yè)人員的廣泛認(rèn)可。該刊最新影響因子為2.3,最新CiteScore 指數(shù)為5.2。
本刊近期中國學(xué)者發(fā)表的論文主要有:
Improvement of Rough Interface Between Barrier/Seed Layer and Porous Ultralow k Film for 28nm Technological Node and Beyond
Author: jdzhm
英文介紹
Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing雜志英文介紹
The IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing addresses the challenging problems of manufacturing complex microelectronic components, especially very large scale integrated circuits (VLSI). Manufacturing these products requires precision micropatterning, precise control of materials properties, ultraclean work environments, and complex interactions of chemical, physical, electrical and mechanical processes.
中科院SCI分區(qū)
Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing雜志中科院分區(qū)信息